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Polarisationsmikroskopie: Lagentextur in Piemontitschiefer

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CSR-Makro

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Premium (Complete), Deutschland

Polarisationsmikroskopie: Lagentextur in Piemontitschiefer

Gesteinsdünnschliff (25 µm Dicke); 100fache Vergrößerung.
Oben: einfach linear polarisiertes Licht; unten: gekreuzte Polarisatoren.
Alte "Sammlung von 45 Dünnschliffen zur Erläuterung der Struktur und Textur der Gesteine"; zusammengestellt nach Rosenbusch, bearbeitet von Prof. Dr. A. Osann (1923); Dr. F. Krantz, Rheinisches Mineralien-Kontor, Schliff Nr. 44.
Fundort: Otakisan, Japan.

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